1. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Jian Min Zuo, John C.H. Spence
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Materials science.,Nanochemistry.,Solid state physics.,Nanoscience.,Nanostructures.,Nanotechnology.
رده :
TA404
.
6
.
Z88
2017
2. Characterization of Metals and Alloys
پدیدآورنده : edited by Ramiro Perez Campos, Antonio Contreras Cuevas, Rodrigo A. Esparza Munoz
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Materials science,، Metals,، Microscopy,، Spectroscopy
رده :
TN
690
.
R34
2017
3. Essential NMR :For Scientists and Engineers
پدیدآورنده : Blumich, Bernhard.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Analytical chemistry,، Spectroscopy,، Microscopy,، Materials science,، Biology-Technique,، Solid state physics,، Polymers,، Analytical Chemistry,، Spectroscopy and Microscopy,، Characterization and Evaluation of Materials,، Biological Techniques,، Solid State Physics,، Polymer Sciences
رده :
QD
101
.
B3E8
4. #Handbook of materials characterization
پدیدآورنده : #Jeff Turner, editor
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Materials science ،Materials -- Microscopy
رده :
#
TA
،#.
H36
،#
2012
5. High-energy electron diffraction and microscopy
پدیدآورنده : Peng, L.-M
کتابخانه: کتابخانه مرکزي و مرکز اسناد دانشگاه سمنان (سمنان)
موضوع : ، High energy electron diffraction,، Electron microscopy,، Materials science
رده :
QC
793
.
5E628
P45
2004
6. Kelvin probe force microscopy :
پدیدآورنده : Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Atomic force microscopy.,Electrostatics-- Measurement.,Scanning probe microscopy.,Materials science.,Materials science.,Measurement.,Mensuration & systems of measurement.,Microscopy.,Nanotechnology.,Physical measurements.,Physics.,Precision instruments manufacture.,SCIENCE-- General.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology),Testing of materials.,Thin films.
رده :
QH212
.
A78
K45
2018
7. Phase Change Materials
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه دانشگاه صنعتی اروميه (آذربایجان غربی)
موضوع : Optical materials,Materials Science,Optical and Electronic Materials,Solid State Physics,Spectroscopy and Microscopy,Microwaves, RF and Optical Engineering,Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices
رده :
QC
,
175
.
16
,.
P5
,
2009
8. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis /
پدیدآورنده : by Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.,Biological Microscopy.,Characterization and Evaluation of Materials.,Materials science.,Materials Science.,Measurement Science and Instrumentation.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectroscopy and Microscopy.,Spectroscopy.,Spectroscopy/Spectrometry.,Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.
رده :
TA404
.
6
9. Scanning Probe Microscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : xA0;. ; Condensed matter. ; Spectroscopy and Microscopy. ; &xA0; &xA0; &Surfaces. ; Thin films. ; Materials science. ; Physical measurements. ; Measurement-Spectroscopy. ; Microscopy. ; Materials
